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Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica
Tallenna

Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica

pokkari, 2022
italia
Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalit (cio , contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande variet di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.
ISBN
9786204698052
Kieli
italia
Paino
91 grammaa
Julkaisupäivä
5.5.2022
Sivumäärä
52