Évaluation théorique de la réflectance dans les films minces AL/SiO2

L'am lioration des propri t s optiques d'un mat riau, comme la r flectance, implique la recherche complexe des param tres exp rimentaux optimaux dans le processus d'obtention. L'utilisation de logiciels de calcul pour la simulation de ces processus de croissance de films minces repr sente un avantage substantiel en raison de la non-d pendance par rapport un syst me r el, ainsi que de la possibilit d'explorer une gamme plus large de quantit s physiques impliqu es. De plus, il existe un besoin dans l'industrie automobile, Varroc Lighting Systems(c) s'est vu confier la t che d'am liorer la r flectance des phares aluminis s, nous avons donc r alis le d veloppement, en utilisant le logiciel NASCAM(R), qui utilise la m thode cin tique de Monte Carlo pour d velopper un mod le du syst me physique tudier une chelle nanom trique, cela nous permettra d'analyser l'influence de diff rentes magnitudes qui peuvent affecter la r flectance du mat riau.