Siirry suoraan sisältöön
Estudio de la capa superficial del silicio con recubrimiento de indio
Tallenna

Estudio de la capa superficial del silicio con recubrimiento de indio

Alaotsikko
Microscopía de efecto túnel y espectroscopia de estructuras en las superficies Si(111) y Si(557) con clústeres
ISBN
9786202210850
Kieli
espanja
Paino
155 grammaa
Julkaisupäivä
11.9.2025
Sivumäärä
92