Siirry suoraan sisältöön
Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento
Tallenna

Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento

Alaotsikko
La XPS,es una excelente técnica de caracterización de las superficies de los materiales
ISBN
9783330091870
Kieli
espanja
Paino
185 grammaa
Julkaisupäivä
6.6.2017
Sivumäärä
112