Tallenna
Einführung in die Kristallographie
Die 20., stark überarbeitete Auflage dieses bewährten Standardwerks behandelt grundlegend und umfassend sämtliche Teilgebiete der Kristallographie, wobei u. a.aktuelle Beugungsmethoden mit Neutronen und Synchrotronstrahlung erstmalig beschrieben werden.
- Kirjailija
- Joachim Bohm, Detlef Klimm, Manfred Mühlberg, Björn Winkler
- Painos
- 20., erweiterte Auflage
- ISBN
- 9783110460230
- Kieli
- saksa
- Paino
- 871 grammaa
- Sarja
- De Gruyter Studium
- Julkaisupäivä
- 9.11.2020
- Kustantaja
- De Gruyter
- Sivumäärä
- 532
