Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Tietokirjallisuus
  3. Tiede ja tekniikka

Efficient Test Data Compression and Fault Analysis in VLSI Circuits

52,90 €

ISBN
9786138834304
Kieli
englanti
Paino
136 grammaa
Julkaisupäivä
31.5.2019
Kustantaja
Scholars Press
Sivumäärä
84