

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
- Kirjailija
- SirRaman Kannan, Bruce G. LeFevre, Michael J. LuValle
- ISBN
- 9780203492031
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 27.4.2004
- Kustantaja
- CRC PRESS
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone