

Defects in Microelectronic Materials and Devices
- Toimittaja
- Daniel M. Fleetwood, Ronald D. Schrimpf
- ISBN
- 9781420043778
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 19.11.2008
- Kustantaja
- CRC PRESS
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone