Siirry suoraan sisältöön
Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks
Tallenna

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.
Alaotsikko
Nano-Electronic Semiconductor Devices
Toimittaja
Evgeni Gusev
Painos
2006 ed.
ISBN
9781402043666
Kieli
englanti
Paino
310 grammaa
Julkaisupäivä
27.1.2006
Sivumäärä
492