Siirry suoraan sisältöön
Defect Reduction Study of MBE Grown CdTe Thin Films by Annealing
Tallenna

Defect Reduction Study of MBE Grown CdTe Thin Films by Annealing

Alaotsikko
Decreasing of Defects of MBE Grown CdTe F¿lms by Ex-Situ Annealing as a Buffer Layer for MCT IR Detector Applications
Kirjailija
Emine Bakali
ISBN
9783639814569
Kieli
englanti
Paino
185 grammaa
Julkaisupäivä
22.10.2016
Kustantaja
TAK
Sivumäärä
112