
Defect Reduction Study of MBE Grown CdTe Thin Films by Annealing
- Alaotsikko
- Decreasing of Defects of MBE Grown CdTe F¿lms by Ex-Situ Annealing as a Buffer Layer for MCT IR Detector Applications
- Kirjailija
- Emine Bakali
- ISBN
- 9783639814569
- Kieli
- englanti
- Paino
- 185 grammaa
- Julkaisupäivä
- 22.10.2016
- Kustantaja
- TAK
- Sivumäärä
- 112