Siirry suoraan sisältöön
Defect Detection via THz Imaging
Tallenna

Defect Detection via THz Imaging

Kirjailija:
pokkari, 2008
englanti
Alaotsikko
Potentials and Limitations
Kirjailija
Kaveh Houshmand
ISBN
9783639103694
Kieli
englanti
Paino
127 grammaa
Julkaisupäivä
6.11.2008
Kustantaja
VDM Verlag
Sivumäärä
88