
Control del envejecimiento de los transistores de potencia
- Alaotsikko
- Reto de fiabilidad: controlar el envejecimiento y el fallo de los transistores en condiciones de cortocircuito
- ISBN
- 9786208939465
- Kieli
- espanja
- Paino
- 155 grammaa
- Julkaisupäivä
- 17.6.2025
- Kustantaja
- Ediciones Nuestro Conocimiento
- Sivumäärä
- 92