Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Englanninkieliset kirjat

Characterization of Stress in GaN-on-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy

19,40 €

ISBN
9781288368518
Kieli
englanti
Paino
150 grammaa
Julkaisupäivä
29.11.2012
Sivumäärä
98

Characterization of Stress in GaN-on-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy - Francisco E. Parada - Nidottu (9781288368518) | Adlibris kirjakauppa