Tallenna
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. The book focuses on the methods used to characterize small point-defect clus
- Kirjailija
- M.L Jenkins, M.A Kirk
- ISBN
- 9781040205860
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 21.11.2000
- Kustantaja
- CRC PRESS
- Formaatti
- Epub - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
