Siirry suoraan sisältöön
Characterisation of metallic particle distributions by scanning near-field optical microscopy (SNOM) in simultaneous reflection and transmission mode
Tallenna

Characterisation of metallic particle distributions by scanning near-field optical microscopy (SNOM) in simultaneous reflection and transmission mode

Kirjailija:
pokkari, 2014
englanti
Kirjailija
Steven Kämmer
ISBN
9783656745808
Kieli
englanti
Paino
73 grammaa
Julkaisupäivä
6.10.2014
Kustantaja
Grin Publishing
Sivumäärä
48