
Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
- Alaotsikko
- A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
- Kirjailija
- Xiaowei Li, Guihai Yan, Cheng Liu
- Painos
- 2023 ed.
- ISBN
- 9789811985539
- Kieli
- englanti
- Paino
- 310 grammaa
- Julkaisupäivä
- 3.3.2024
- Kustantaja
- SPRINGER VERLAG, SINGAPORE
- Sivumäärä
- 304