Tallenna
Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies
e-kirja, 2005
englanti
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
Since its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications relevant to particle-solid and particle-liquid interactions, design, fabrication, and characterization of new materials, an
- Toimittaja
- J. Drelich, Kash L. Mittal
- ISBN
- 9781040192306
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 1.10.2005
- Kustantaja
- CRC PRESS
- Formaatti
- Epub - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
