Tallenna
Atom Probe Microscopy
Kirjailija:
sidottu, 2012
englanti
This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.
Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.
- Kirjailija
- Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer
- Painos
- 2012 ed.
- ISBN
- 9781461434351
- Kieli
- englanti
- Paino
- 446 grammaa
- Julkaisupäivä
- 14.5.2012
- Kustantaja
- Springer-Verlag New York Inc.
- Sivumäärä
- 396
