Siirry suoraan sisältöön
  1. Kirjat
  2. Tietokirjallisuus
  3. Tiede ja tekniikka

Assessing Fault Model and Test Quality

143,10 €

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen­ eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.

ISBN
9781461366027
Kieli
englanti
Paino
281 grammaa
Julkaisupäivä
27.9.2012
Sivumäärä
132