Siirry suoraan sisältöön
Applied Scanning Probe Methods III
Tallenna

Applied Scanning Probe Methods III

sidottu, 2006
englanti
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
Alaotsikko
Characterization
Painos
2006 ed.
ISBN
9783540269090
Kieli
englanti
Paino
446 grammaa
Julkaisupäivä
22.2.2006
Sivumäärä
378