Tallenna
Analytical Techniques for Thin Films
e-kirja, 2013
englanti
Lue Adobe DRM-yhteensopivassa e-kirjojen lukuohjelmassaTämä e-kirja on kopiosuojattu Adobe DRM:llä, mikä vaikuttaa siihen, millä alustalla voit lukea kirjaa. Lue lisää
Treatise on Materials Science and Technology, Volume 27: Analytical Techniques for Thin Films covers a set of analytical techniques developed for thin films and interfaces, all based on scattering and excitation phenomena and theories. The book discusses photon beam and X-ray techniques; electron beam techniques; and ion beam techniques. Materials scientists, materials engineers, chemical engineers, and physicists will find the book invaluable.
- Alaotsikko
- Treatise on Materials Science and Technology, Vol. 27
- Toimittaja
- K. N. Tu, R. Rosenberg
- ISBN
- 9781483218311
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 22.10.2013
- Kustantaja
- ELSEVIER SCIENCE
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone
