

Ageing of Integrated Circuits
- Alaotsikko
- Causes, Effects and Mitigation Techniques
- Toimittaja
- Basel Halak
- ISBN
- 9783030237813
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 30.9.2019
- Kustantaja
- Springer International Publishing
- Formaatti
- Epub - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone