
Advances in X-Ray Analysis
- Toimittaja
- Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G. J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith
- ISBN
- 9780306442490
- Kieli
- englanti
- Paino
- 2760 grammaa
- Julkaisupäivä
- 1.10.1992
- Kustantaja
- Kluwer Academic/Plenum Publishers
- Sivumäärä
- 1334