
Advanced Transmission Electron Microscopy
- Alaotsikko
- Imaging and Diffraction in Nanoscience
- Kirjailija
- Jian Min Zuo, John C.H. Spence
- Painos
- 1st ed. 2017
- ISBN
- 9781493966059
- Kieli
- englanti
- Paino
- 446 grammaa
- Julkaisupäivä
- 26.10.2016
- Kustantaja
- Springer-Verlag New York Inc.
- Sivumäärä
- 729