Siirry suoraan sisältöön
Active Probe Atomic Force Microscopy
Tallenna

Active Probe Atomic Force Microscopy

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
Alaotsikko
A Practical Guide on Precision Instrumentation
ISBN
9783031442353
Kieli
englanti
Paino
310 grammaa
Julkaisupäivä
7.2.2025
Sivumäärä
366