
Active Probe Atomic Force Microscopy
- Alaotsikko
- A Practical Guide on Precision Instrumentation
- Kirjailija
- Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi
- ISBN
- 9783031442353
- Kieli
- englanti
- Paino
- 310 grammaa
- Julkaisupäivä
- 7.2.2025
- Kustantaja
- Springer International Publishing AG
- Sivumäärä
- 366