
Active Probe Atomic Force Microscopy
- Alaotsikko
- A Practical Guide on Precision Instrumentation
- Kirjailija
- Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi
- Painos
- 2024 ed.
- ISBN
- 9783031442322
- Kieli
- englanti
- Paino
- 446 grammaa
- Julkaisupäivä
- 7.2.2024
- Kustantaja
- Springer International Publishing AG
- Sivumäärä
- 366