Siirry suoraan sisältöön
Active Probe Atomic Force Microscopy
Tallenna

Active Probe Atomic Force Microscopy

sidottu, 2024
englanti
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
Alaotsikko
A Practical Guide on Precision Instrumentation
Painos
2024 ed.
ISBN
9783031442322
Kieli
englanti
Paino
446 grammaa
Julkaisupäivä
7.2.2024
Sivumäärä
366