

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
- Alaotsikko
- Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
- Toimittaja
- H.A. Storms, R. Shimizu, R.A. Powell, C.A. Jr. Evans, A. Benninghoven
- ISBN
- 9783642618710
- Kieli
- englanti
- Julkaisupäivä
- 11.11.2013
- Kustantaja
- Springer Berlin Heidelberg
- Formaatti
- PDF - Adobe DRM
- Lue e-kirjoja täällä
- Lue e-kirja mobiililaitteella/tabletilla
- Lukulaite
- Tietokone