

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
- Undertitel
- Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
- Redaktör
- H.A. Storms, R. Shimizu, R.A. Powell, C.A. Jr. Evans, A. Benninghoven
- ISBN
- 9783642618710
- Språk
- Engelska
- Utgivningsdatum
- 2013-11-11
- Tillgängliga elektroniska format
- PDF - Adobe DRM
- Läs e-boken här
- E-boksläsare i mobil/surfplatta
- Läsplatta
- Dator
