Gå direkt till innehållet
Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
Spara

Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence

Författare:
pocket, 2012
Engelska
Lägsta pris på PriceRunner
Författare
Thomas E Gray
ISBN
9781288308347
Språk
Engelska
Vikt
186 gram
Utgivningsdatum
2012-11-16
Sidor
126