Spara

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

inbunden, 1997

Engelska

1 633 kr

Skickas inom 5-7 vardagar

This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, in Natick, Massachusetts, at Natick Research, Development and Engineering Center, now part ofU.S. Army Soldier Systems Command.

Redaktör: Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody
Upplaga: 1997 ed.
ISBN: 9780306455964
Språk: Engelska
Vikt: 446 gram
Utgivningsdatum: 1997-04-30
Förlag: Kluwer Academic/Plenum Publishers
Sidor: 250

Leverans

Gratis ekonomifrakt för privatpersoner från 249 kr. Vi erbjuder leverans till ombud, direkt till din brevlåda eller dörr, paketskåp, och hemleverans. Vilka leveransalternativ som är tillgängliga för dig framgår i kassan. Leveranstiden kan variera beroende på leveranssätt, adress, och om din beställning innehåller produkter med längre leveranstider. Den totala leveranstiden visas i kassan.

City Mail

Betalning

Du kan välja att betala med Apple Pay, kort (Visa eller Mastercard), eller via Klarna där du kan betala med Swish, kort, direktbetalning, faktura eller delbetalning. Genom att klicka på "Betala köp" godkänner du Kustoms och Adlibris allmänna villkor. Du kan ta del av hur dina personuppgifter behandlas i Adlibris personuppgiftspolicy, och i Kustoms dataskyddsinformation.

Returer

Hos Adlibris har du alltid 28 dagars ångerrätt från det att du mottagit din produkt. Returavgiften är 59 kr. Nedladdningsbara produkter omfattas inte av ångerrätten eftersom de levereras direkt efter köpet. För mer information om returer, återbetalning och reklamation, läs våra köpvillkor.

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Beskrivning

Produktinfo