Atom-Probe Tomography

Författare:

Miller Michael K., Forbes Richard G.

Inbunden, 2014

engelska

1 875 kr

Skickas fre 26 juni–tors 2 juli

HäftadSkickas fre 26 juni–tors 2 juli

1 875 kr

Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy.

Undertitel: The Local Electrode Atom Probe
Författare: Miller Michael K., Forbes Richard G.
ISBN: 9781489974297
Språk: engelska
Vikt: 518 gram
Utgivningsdatum: 2014-08-02
Förlag: Springer-Verlag New York Inc.
Sidor: 423

Leverans

Gratis ekonomifrakt för privatpersoner från 249 kr. Vi erbjuder leverans till ombud, direkt till din brevlåda eller dörr, paketskåp, och hemleverans. Vilka leveransalternativ som är tillgängliga för dig framgår i kassan. Leveranstiden kan variera beroende på leveranssätt, adress, och om din beställning innehåller produkter med längre leveranstider. Den totala leveranstiden visas i kassan.

City Mail DSV

Betalning

Du kan välja att betala med Apple Pay, kort (Visa eller Mastercard), eller via Klarna där du kan betala med Swish, kort, direktbetalning, faktura eller delbetalning. Genom att klicka på "Betala köp" godkänner du Kustoms och Adlibris allmänna villkor. Du kan ta del av hur dina personuppgifter behandlas i Adlibris personuppgiftspolicy, och i Kustoms dataskyddsinformation.

Returer

Hos Adlibris har du alltid 28 dagars ångerrätt från det att du mottagit din produkt. Returavgiften är 59 kr. Nedladdningsbara produkter omfattas inte av ångerrätten eftersom de levereras direkt efter köpet. För mer information om returer, återbetalning och reklamation, läs våra köpvillkor.