Spara
Analytical Techniques for Thin Films
e-bok, 2013
Engelska
1 087 kr
Läs i Adobe DRM-kompatibel e-boksläsareDen här e-boken är kopieringsskyddad med Adobe DRM vilket påverkar var du kan läsa den. Läs mer
Treatise on Materials Science and Technology, Volume 27: Analytical Techniques for Thin Films covers a set of analytical techniques developed for thin films and interfaces, all based on scattering and excitation phenomena and theories. The book discusses photon beam and X-ray techniques; electron beam techniques; and ion beam techniques. Materials scientists, materials engineers, chemical engineers, and physicists will find the book invaluable.
- Undertitel
- Treatise on Materials Science and Technology, Vol. 27
- Redaktör
- K. N. Tu, R. Rosenberg
- ISBN
- 9781483218311
- Språk
- Engelska
- Utgivningsdatum
- 2013-10-22
- Förlag
- ELSEVIER SCIENCE
- Tillgängliga elektroniska format
- PDF - Adobe DRM
- Läs e-boken här
- E-boksläsare i mobil/surfplatta
- Läsplatta
- Dator
