Gå direkt till innehållet
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Spara

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

Författare:
Engelska
314 kr
Lägsta pris på PriceRunner
Författare
Sarah Fearn
ISBN
9781681747385
Språk
Engelska
Vikt
310 gram
Utgivningsdatum
2015-10-16
Sidor
68