Spara

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Författare:

Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury

häftad

, 2013

Engelska

1 295 kr

Skickas inom 5-13 vardagar

Ej garanterad leverans före julafton

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.

Författare: Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury
Upplaga: Softcover reprint of the original 1st ed. 1986
ISBN: 9781475790290
Språk: Engelska
Vikt: 310 gram
Utgivningsdatum: 2013-06-08
Förlag: Springer-Verlag New York Inc.
Sidor: 454

Leverans

Gratis ekonomifrakt för privatpersoner från 249 kr. Vi erbjuder leverans till ombud, direkt till din brevlåda eller dörr, paketskåp, och hemleverans. Vilka leveransalternativ som är tillgängliga för dig framgår i kassan. Leveranstiden kan variera beroende på leveranssätt, adress, och om din beställning innehåller produkter med längre leveranstider. Den totala leveranstiden visas i kassan.

City Mail

Betalning

Du kan välja att betala med Apple Pay, kort (Visa eller Mastercard), eller via Klarna där du kan betala med Swish, kort, direktbetalning, faktura eller delbetalning. Genom att klicka på "Betala köp" godkänner du Kustoms och Adlibris allmänna villkor. Du kan ta del av hur dina personuppgifter behandlas i Adlibris personuppgiftspolicy, och i Kustoms dataskyddsinformation.

Returer

Hos Adlibris har du alltid 28 dagars ångerrätt från det att du mottagit din produkt. Returavgiften är 59 kr. Nedladdningsbara produkter omfattas inte av ångerrätten eftersom de levereras direkt efter köpet. För mer information om returer, återbetalning och reklamation, läs våra köpvillkor.

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Beskrivning

Produktinfo