Gå direkt till innehållet
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
Spara

Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices

Lägsta pris på PriceRunner
Läs i Adobe DRM-kompatibel e-boksläsareDen här e-boken är kopieringsskyddad med Adobe DRM vilket påverkar var du kan läsa den. Läs mer
An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
ISBN
9789401150088
Språk
Engelska
Utgivningsdatum
2012-12-06
Tillgängliga elektroniska format
  • PDF - Adobe DRM
Läs e-boken här
  • E-boksläsare i mobil/surfplatta
  • Läsplatta
  • Dator