Spara
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Läs i Adobe DRM-kompatibel e-boksläsareDen här e-boken är kopieringsskyddad med Adobe DRM vilket påverkar var du kan läsa den. Läs mer
Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. The book focuses on the methods used to characterize small point-defect clus
- Författare
- M.L Jenkins, M.A Kirk
- ISBN
- 9781040205860
- Språk
- Engelska
- Utgivningsdatum
- 2000-11-21
- Förlag
- CRC PRESS
- Tillgängliga elektroniska format
- Epub - Adobe DRM
- Läs e-boken här
- E-boksläsare i mobil/surfplatta
- Läsplatta
- Dator
