Spara

X-Ray Microscopy II

häftad

, 2013

Engelska

Serie: Springer Series in Optical Sciences (del 56)

662 kr

Skickas inom 4-7 vardagar

This volume is based on papers presented at the International Symposium on X-Ray Microscopy held at Brookhaven National Laboratory, Upton NY, August 31-September 4, 1987.

Undertitel: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31–September 4, 1987
Redaktör: David Sayre, Malcolm Howells, Janos Kirz, Harvey Rarback
Upplaga: Softcover reprint of the original 1st ed. 1988
ISBN: 9783662144909
Språk: Engelska
Vikt: 310 gram
Serie: Springer Series in Optical Sciences (del 56)
Utgivningsdatum: 2013-10-03
Förlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH Co. K
Sidor: 455

Leverans

Gratis ekonomifrakt för privatpersoner från 249 kr. Vi erbjuder leverans till ombud, direkt till din brevlåda eller dörr, paketskåp, och hemleverans. Vilka leveransalternativ som är tillgängliga för dig framgår i kassan. Leveranstiden kan variera beroende på leveranssätt, adress, och om din beställning innehåller produkter med längre leveranstider. Den totala leveranstiden visas i kassan.

City Mail

Betalning

Du kan välja att betala med Apple Pay, kort (Visa eller Mastercard), eller via Klarna där du kan betala med Swish, kort, direktbetalning, faktura eller delbetalning. Genom att klicka på "Betala köp" godkänner du Kustoms och Adlibris allmänna villkor. Du kan ta del av hur dina personuppgifter behandlas i Adlibris personuppgiftspolicy, och i Kustoms dataskyddsinformation.

Returer

Hos Adlibris har du alltid 28 dagars ångerrätt från det att du mottagit din produkt. Returavgiften är 59 kr. Nedladdningsbara produkter omfattas inte av ångerrätten eftersom de levereras direkt efter köpet. För mer information om returer, återbetalning och reklamation, läs våra köpvillkor.

X-Ray Microscopy II

Beskrivning

Produktinfo