Gå direkt till innehållet
Software Defect and Operational Profile Modeling
Spara

Software Defect and Operational Profile Modeling

Lägsta pris på PriceRunner
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
Författare
Kai-Yuan Cai
Upplaga
Softcover reprint of the original 1st ed. 1998
ISBN
9781461375593
Språk
Engelska
Vikt
310 gram
Utgivningsdatum
2012-10-12
Sidor
268