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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

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Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschätzen, mit der ein Fehler durch ein zufällig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen.
ISBN
9783540180722
Språk
Tyska
Vikt
310 gram
Utgivningsdatum
1987-08-12
Sidor
133