Instruments de contrôle des radiations dans l'espace

Les particules charg es peuvent avoir des effets n fastes sur les engins spatiaux et les composants lectroniques. Les effets du rayonnement des particules haute nergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la d gradation ou la d faillance permanente des composants et sous-syst mes lectroniques par des effets d' v nement unique, des dommages de d placement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent tre divis s en trois cat gories de base: La dose ionisante totale (TID), le transfert d' nergie lin aire (LET) et les perturbations dues un v nement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d' nergie ionisante d pos e sur une longue p riode sur les mat riaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l' nergie ionisante d pos e sur une longue p riode sur les mat riaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d' nergie vers le mat riau par unit de distance de parcours travers le mat riau est appel TLE Les dispositifs lectroniques peuvent tre perturb s par le passage d' lectrons nerg tiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l' tat d'un circuit, produisant des "effets d' v nement unique". SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l' tat logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent tre r initialis es par diff rentes op rations lectriques. Ces erreurs sont appel es soft errors et sont r cup rables.