Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie

Dieses Buch konzentriert sich auf das Funktionsprinzip des AFM, seine verschiedenen Modi (d.h. Kontakt-, ber hrungslose und Klopfmodi), die Analyse einiger AFM-Ergebnisse und einige Anwendungen. Dieses Buch unterstreicht auch die Eigenschaften des AFM als vielseitiges und n tzliches morphologisches Werkzeug zum Scannen einer gro en Vielfalt von Oberfl chen mit einer planaren Aufl sung, die von Nanometerskalen bis hin zu atomaren Skalen reicht. Wir hoffen, dass dieses Buch f r Forscher und Studenten hilfreich ist, um das Grundkonzept des AFM zu verstehen und es f r verschiedene Arten von Proben einzusetzen.