Spara

Atom Probe Microscopy

Författare:

Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer

inbunden, 2012

Engelska

Serie: Springer Series in Materials Science (del 160)

3 066 kr

Skickas inom 6-8 vardagar

This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.

Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.

Författare: Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer
Upplaga: 2012 ed.
ISBN: 9781461434351
Språk: Engelska
Vikt: 446 gram
Serie: Springer Series in Materials Science (del 160)
Utgivningsdatum: 2012-05-14
Förlag: Springer-Verlag New York Inc.
Sidor: 396

Leverans

Gratis ekonomifrakt för privatpersoner från 249 kr. Vi erbjuder leverans till ombud, direkt till din brevlåda eller dörr, paketskåp, och hemleverans. Vilka leveransalternativ som är tillgängliga för dig framgår i kassan. Leveranstiden kan variera beroende på leveranssätt, adress, och om din beställning innehåller produkter med längre leveranstider. Den totala leveranstiden visas i kassan.

City Mail

Betalning

Du kan välja att betala med Apple Pay, kort (Visa eller Mastercard), eller via Klarna där du kan betala med Swish, kort, direktbetalning, faktura eller delbetalning. Genom att klicka på "Betala köp" godkänner du Kustoms och Adlibris allmänna villkor. Du kan ta del av hur dina personuppgifter behandlas i Adlibris personuppgiftspolicy, och i Kustoms dataskyddsinformation.

Returer

Hos Adlibris har du alltid 28 dagars ångerrätt från det att du mottagit din produkt. Returavgiften är 59 kr. Nedladdningsbara produkter omfattas inte av ångerrätten eftersom de levereras direkt efter köpet. För mer information om returer, återbetalning och reklamation, läs våra köpvillkor.

Atom Probe Microscopy

Beskrivning

Fler bokformat

Produktinfo