A Correlação das Propriedades Ópticas dos Filmes Finos ZnO

No presente trabalho, utiliz mos as propriedades pticas das pel culas finas de xido de zinco puro e dopado como o semicondutor do tipo "n". As pel culas finas foram depositadas em diferentes molaridades precursoras por spray ultra-s nico e t cnicas de pir lise de spray tamb m a diferentes temperaturas do substrato, o ZnO dopado com v rios dopantes tais como Al, In, Co, Ni, Sn, V, Fe, F, Sn dopado de pel culas finas de ZnO. Neste trabalho, a aten o centrou-se na nova abordagem actual para calcular a energia do fosso ptico e as energias Urbach. Foi estudado o modelo proposto para calcular o intervalo de banda ou as energias Urbach de filmes finos de ZnO n o dopados e dopados. A rela o entre os dados experimentais e o c lculo te rico com as molaridades precursoras sugere que o intervalo de banda ou as energias Urbach s o predominantemente estimadas pelo intervalo de banda ou pelas energias Urbach e a concentra o da solu o ZnO.