Gå direkt till innehållet
  1. Böcker
  2. Facklitteratur
  3. Vetenskap & teknik

Study of Atomic Layer Deposited HfO2/Si Interfaces

Författare:
engelska
70,00 €

Författare
Savita Maurya
ISBN
9786139909506
Språk
engelska
Vikt
250 gram
Utgivningsdatum
1.8.2019
Sidor
156