Gå direkt till innehållet
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Spara

Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy

Författare:
pocket, 2012
Engelska
Författare
Stanley J Ness
ISBN
9781286862377
Språk
Engelska
Vikt
177 gram
Utgivningsdatum
26.10.2012
Sidor
120