Reliability, Yield, and Stress Burn-In
- Undertitel
- A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
- Författare
- Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim
- ISBN
- 9781461375968
- Språk
- engelska
- Vikt
- 281 gram
- Utgivningsdatum
- 14.3.2014
- Sidor
- 394
