Gå direkt till innehållet
  1. Böcker
  2. Böcker på engelska

Ion Beam Surface Layer Analysis

Författare:
engelska
66,10 €

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no­ vel applications.

Undertitel
Volume 2
Författare
Meyer Otto
ISBN
9781461588818
Språk
engelska
Vikt
281 gram
Utgivningsdatum
30.1.2012
Sidor
491