Emissions optiques des produits de pulvérisation des métaux Ni, Cr, Ti

Le pr sent travail est r alis au sein de l' quipe SIAM (Spectroscopie & Imagerie Atomiques des Mat riaux) de l'Universit Cadi Ayyad. Il consiste tudier, par la technique SIPS, la luminescence des chantillons de Ni, Cr, Ti et des oxydes NiO et Cr2O3. Les cibles sont bombard es par des ions Kr+ de 5 keV sous un angle de 65 par rapport la normale et le domaine spectral explor s' tend de l'UV proche jusqu'au visible. Les tudes que nous avons men es peuvent tre r sum es comme suit: * Mise en vidence des missions optiques des produits de pulv risation des trois m taux: nickel, chrome et titane et leurs oxydes, bombard s sous vide (meilleur que 10-7 torr). * Interpr tation de l'effet de l'oxyg ne sur les spectres de luminescence. * Examen et application du mod le d' change d' lectrons. Estimation de l'affinit lectronique et de la bande interdite (gap) des oxydes.