Dureté de la Projection Dans Les Nano- Et Microranges

Cette monographie est consacr e l' tude de la m thode de duret projective des mat riaux, en mettant l'accent sur l'utilisation d'un p n trateur sph rique et conique dans les domaines nanom trique et micro conomique. Les principales m thodes de mesure de la duret (Rockwell, Vickers, Brinell, Martens) et les concepts de duret projective, superficielle et apparente sont examin s. Les mat riaux, l' quipement et les m thodes de calcul de la duret projective r duite et non r duite sont d crits en d tail. Un grand nombre de diagrammes d'indentation sont pr sent s pour divers chantillons d'acier avec diff rentes duret s et microstructures. Ces diagrammes sont obtenus en indentant des chantillons standard qui sont fournis avec des tarauds de duret Brinell et qui sont largement disponibles dans la plupart des entreprises de construction de machines. Les auteurs recommandent que ces diagrammes soient utilis s par d'autres chercheurs qui ne sont pas en mesure de les cr er eux-m mes. Les r sultats des tudes exp rimentales sont analys s, des calculs sont effectu s et des conclusions sont tir es concernant la faisabilit de l'utilisation des m thodes de duret par projection dans la recherche moderne en science des mat riaux.