Gå direkt till innehållet
Defect Reduction Study of MBE Grown CdTe Thin Films by Annealing
Spara

Defect Reduction Study of MBE Grown CdTe Thin Films by Annealing

Författare:
Engelska
Undertitel
Decreasing of Defects of MBE Grown CdTe F¿lms by Ex-Situ Annealing as a Buffer Layer for MCT IR Detector Applications
Författare
Emine Bakali
ISBN
9783639814569
Språk
Engelska
Vikt
185 gram
Utgivningsdatum
2016-10-22
Förlag
TAK
Sidor
112